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光波測量

<例>光波機器銘板

サイズ63×80 厚0.8 4-φ3 4-R2.5 黒半艶


光波測量(こうはそくりょう)は、光の波動特性を利用して測定を行う技術です。これは主に精密測定の分野で使用されており、長さの測定、干渉測定、位置測定、振動解析などに用いられます。この技術は、光の干渉特性と波長の安定性を利用して高精度な測定を実現します。

光波測量の一般的な方法には以下のものがあります:

1.干渉測定(インターフェロメトリー):光の干渉現象を利用して精密な測定を行う方法です。レーザー干渉計などが計測学や光学部品のテストに広く使用されています。

2.光周波数領域反射(OFDR):光の周波数変化を利用して、長さや位置の変化を測定する方法です。これは光ファイバーセンサーや光通信システムのテストで一般的に使用されます。

3.位相測定:光波の位相変化を測定して、物体の移動や変形を検出する技術です。

光波測量技術は、その高精度と非接触の特性から、科学研究、工業生産、材料テスト、医療診断など多くの分野で広く応用されています。

 

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